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2024-11-14

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聚焦離子束FIB的優(yōu)勢與挑戰(zhàn)：技術(shù)優(yōu)缺點探討

聚焦離子束 FIB 的優(yōu)勢與挑戰(zhàn)：技術(shù)優(yōu)缺點探討聚焦離子束（ Focused Ion Beam, FIB ）技術(shù)是一種高精度微加工和微分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域。一、優(yōu)勢 1. 高精度加工： FIB 技術(shù) 能夠?qū)崿F(xiàn)納米級的加工精度，遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)的光刻技術(shù) ；它可以用于...

2024-09-05

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FIB聚焦離子束技術(shù)在檢測樣品時樣品的制備流程解析

FIB 聚焦離子束技術(shù)在檢測樣品時樣品的制備流程解析聚焦離子束 FIB 技術(shù)是一種基于離子光學(xué)原理的微納米加工技術(shù)，其具有高精度、高效率、實時性好等優(yōu)點。 FIB 技術(shù)在我國科研、工業(yè)等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，尤其在樣品制備方面， FIB 技術(shù)具有獨特的優(yōu)勢。本文將詳細(xì)介紹 FIB 技術(shù)在樣品制備...

2023-12-18

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聚焦離子束（FIB）助力新型材料研究與開發(fā)

聚焦離子束（ FIB ）助力新型材料研究與開發(fā) 聚焦離子束（ FIB ）技術(shù)是一種利用靜電透鏡將離子束聚焦成極小尺寸的微切割技術(shù) ，其原理是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過聚焦，形成具有高能量、高束流密度的離子束，通過控制離子束的掃描路徑，可以在材料表面進(jìn)行納米級的切割、刻蝕和修飾等操作； FIB...

2023-12-05

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FIB + SEM/TEM: 能量超乎你的想象！

為充分理解材料的“結(jié)構(gòu)-組成-性能”三要素之間的關(guān)系，科學(xué)界發(fā)展了許多成像和組分分析技術(shù)，SEM和TEM就是表征這方面的常用儀器。SEM能夠?qū)Σ牧媳砻娴慕Y(jié)構(gòu)形貌和成分組成進(jìn)行分析，但是無法獲取材料內(nèi)部信息；TEM雖然能夠?qū)Ψ从吵鰳悠穬?nèi)部及表面信息的薄膜樣品進(jìn)行形貌、成分和結(jié)構(gòu)分析，但是前提是要制備...

2023-11-23

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關(guān)于聚焦離子束（FIB）的基本原理、主要用途及應(yīng)用優(yōu)勢

關(guān)于聚焦離子束（ FIB ）的基本原理、主要用途及應(yīng)用優(yōu)勢聚焦離子束（ FIB ， Focused Ion Beam ）是一種先進(jìn)的納米級加工和分析技術(shù)，它結(jié)合了離子束技術(shù)和掃描電子顯微鏡（ SEM ）技術(shù)，具有廣泛的應(yīng)用優(yōu)勢。一、基本原理聚焦離子束顯微鏡系統(tǒng)由液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生離子束...

2023-11-21

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FIB-SEM電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢

FIB-SEM 電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢掃描電子顯微鏡（ SEM ）是一種廣泛應(yīng)用于材料表面形貌、形變及組成分析的設(shè)備。然而，在處理一些復(fù)雜、不規(guī)則的樣品以及需要進(jìn)行精細(xì)切割、觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)的樣品時，傳統(tǒng)的 SEM 存在局限性。為了克服這些限制，聚焦離子束 - 掃描電子顯微鏡（ FIB-...

2023-10-08

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FIB聚焦離子束切片分析的實驗步驟

FIB 聚焦離子束切片分析的實驗步驟 FIB 聚焦離子束切片分析是一種重要的材料表征技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子器件研究和納米技術(shù)領(lǐng)域。 FIB 切片分析可以通過利用離子束在材料表面產(chǎn)生的刻蝕作用，將材料切割成非常薄的切片，從而提供了對材料結(jié)構(gòu)和成分的詳細(xì)觀察和分析的能力。 FIB 切片分析的...

2023-05-23

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